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用于从光学相干断层扫描图像获得组织特性的定量方法
专利权人:
光学实验室成像公司
发明人:
约瑟夫·M·斯密特,徐晨阳
申请号:
CN200980119224.1
公开号:
CN102046071B
申请日:
2009.06.02
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
一种用于确定通过光学相干断层扫描(OCT)成像的一个组织或多个组织的性质的方法和设备。在一个实施方式中,测量OCT光束的反向散射和衰减,并基于这些测量结果,将诸如颜色的标记分配给对应于那部分的反向散射和衰减的具体值的图像的每一部分。然后图像与所述标记一起显示并且用户接着能够确定组织特性。在一个可替换实施方式中,组织特性通过反向散射和衰减值的组合给定的程序自动分类。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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