A device (10) and method are provided for measuring the plant growth conditions within a substrate. A first and a second linear arrays of probes (16, 18) are used, allowing multiple measurements of properties of the substrate. Using multiple measurements at different levels in the substrate and then combining these multiple measurements, allows plant growth conditions to be accurately derived.Dispositif (10) et procédé pour mesurer les conditions de croissance de plantes à lintérieur dun substrat. Selon linvention, un premier et un second réseau linéaire de sondes (16, 18) sont utilisés, ce qui permet deffectuer de multiples mesures de propriétés du substrat. Lutilisation de multiples mesures à différents niveaux du substrat, puis la combinaison de ces mesures, permettent dobtenir avec précision les conditions de croissance de plantes.
