Die Anmeldung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung optischer Tiefeninformationen eines optisch streuenden Objekts (1), mit folgenden Schritten: Einstrahlen von Messlicht mittels einer Lichtquelle (2) auf das optisch streuende Objekt (1), Ausführen einer Relativbewegung zwischen dem Objekt (1) und der Lichtquelle (2), derart, dass das Messlicht zumindest einen Teil einer Oberfläche des Objekts (1) erfasst, Erfassen von der Oberfläche des Objekts (1) reflektiertem Licht mittels einer flächigen optischen Messeinrichtung (3), Auswerten von Positionsinformationen des reflektierten Lichts zum Bestimmen einer Oberflächenbeschaffenheit des Objekts (1), Bestimmen einer Intensität des auf die Oberfläche des Objekts (1) eingestrahlten Messlichts unter Berücksichtigung der Oberflächenbeschaffenheit des Objekts (1) und Auswerten von einer Intensität eines Pixels zum Bestimmen einer Tiefeninformation zu dem Objekt, wobei eine Position des Pixels zu einer Position auf der Oberfläche des Objekts versetzt ist, auf welche das Messlicht eingetroffen ist, und wobei bei dem Auswerten der Intensität des Pixels die zuvor bestimmte Intensität des eingestrahlten Messlichts berücksichtigt wird. Weiterhin betrifft die Anmeldung eine Vorrichtung zur Bestimmung optischer Tiefeninformationen eines optisch streuenden Objekts (1).The application relates to a method for acquiring optical depth information of an optically scattering object (1) and comprises the following steps: irradiating measuring light onto the optically scattering object (1) by means of a light source (2), carrying out a movement of the object (1) relative to the light source (2) such that the measuring light detects at least a part of a surface of the object (1), detecting, by means of a flat optical measuring device (3), the light reflected by the surface of the object (1), analyzing position information of the reflected light to determine a surface quality of the object (1), measuring an intensity of the measuring light irra
