Apparatus for performing impedance measurements on a subject. The apparatus includes a first processing system for determining an impedance measurement procedure and determining instructions corresponding to the measurement procedure. A second processing system is provided for receiving the instructions, using the instructions to generate control signals, with the control signals being used to apply one or more signals to the subject. The second processing system then receives first data indicative of the one or more signals applied to the subject, second data indicative of one or more signals measured across the subject and performs at least preliminary processing of the first and second data to thereby allow impedance values to be determined.L’invention concerne un système de surveillance destiné à effectuer des mesures d’impédance sur un sujet. L’appareil comprend un premier système de traitement permettant de déterminer une procédure de mesure d’impédance et de déterminer les instructions correspondant à la procédure de mesure. Un second système de traitement est prévu pour recevoir les instructions, utilisant des instructions permettant de générer des signaux de commande qui sont utilisés pour appliquer au moins un signal au sujet. Le second système de traitement reçoit alors la première donnée indiquant au moins le signal appliqué au sujet, une seconde donnée indicative d’un signal ou plus qui est mesurée sur le sujet et effectue au moins un traitement préliminaire de la première et seconde données de manière à permettre la détermination des valeurs d’impédance.
