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眼科検査装置
专利权人:
NIDEK CO LTD
发明人:
HANEBUCHI MASAAKI,羽根渕 昌明
申请号:
JP2010276427
公开号:
JP2012125265A
申请日:
2010.12.10
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ophthalmologic examination apparatus capable of acquiring information about the eyeground of an eye pressurized by pressurizing means.SOLUTION: The apparatus includes: the pressurizing means 10 for pressurizing an eye E of a subject and eyeground signal detecting means 100 for detecting a first signal related to the eyeground Ef of the eye pressurized by the pressurizing means. A control section uses the first signal detected by the eyeground signal detecting means 100 to measure at least any one of intraocular pressure, hardness of the whole eye, hardness of the eyeground, and an eye axis length. As the eyeground signal detecting means, for example, an optical interferometer is used.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】加圧手段によって加圧された眼の眼底に関連する情報が得られる。【解決手段】被検者眼Eを加圧する加圧手段10と、加圧手段によって加圧された眼の眼底Efに関連する第1信号を検出するための眼底信号検出手段100と、を備える。制御部は、眼底信号検出手段100によって検出された第1信号を用いて,眼内圧、眼全体の硬さ、眼底の硬さ、眼軸長の少なくともいずれかを計測する。眼底信号検出手段には、例えば、光干渉計が用いられる。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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