PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique for acquiring an incident amount per energy band of an incident radiation in an indirect-type sensor.SOLUTION: A radiation imaging apparatus comprises: a scintillator a sensor panel on which a plurality of pixels each having a photodetector for detecting light are disposed and a processing unit. The processing unit generates a signal in response to the light detected by each photodetector, determines whether a plurality of signals generated by a pixel group including a pixel of interest and one or more pixels proximate to the pixel of interest out of the plurality of pixels in the same period have a specific distribution, obtains a count by which it is determined that the signals have the specific distribution for the pixel of interest, acquires an incident amount in a first energy band out of a radiation radiated to the pixel of interest on the basis of a value obtained by converting the count in accordance with a first coefficient, and acquires an incident amount in a second energy band out of the radiation radiated to the pixel of interest on the basis of a value obtained by converting the count in accordance with a second coefficient.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】間接型のセンサにおいて、入射する放射線のエネルギ帯ごとの入射量を取得する技術を提供する。【解決手段】シンチレータと、光を検出する光検出器を有する複数の画素が配されたセンサパネルと、処理部と、を含む放射線撮像装置であって、処理部は、光検出器で検出された光に応じて信号を生成し、複数の画素のうち1つの注目画素及び注目画素に近接する1つ以上の画素を含む画素群によって同じ期間に生成された複数の信号が特定の分布を有するかを判定し、特定の分布を有すると判定された回数を注目画素についてカウントし、第1の係数に従って回数を変換することによって得られた値に基づいて、注目画素へ向けて照射された放射線のうち第1のエネルギ帯の入射量を取得し、第2の係数に従って回数を変換することによって得られた値に基づいて、注目画素へ向けて照射された放射線のうち第2のエネルギ帯の入射量を取得する。【選択図】図1
