SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.;SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.;삼성전자 주식회사
发明人:
LEE, Ho-Sub,이호섭
申请号：
KRKR2014/005162
公开号：
WO2015/008936A1
申请日:
2014.06.12
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要：
Disclosed are a diagnostic apparatus for analyzing sensor data detected from one or more sensors to generate user habit data and comparing the generated habit data with data for a diagnosis to diagnose a disease risk group, a diagnosis management apparatus, and a diagnostic method using the same.L'invention concerne un appareil de diagnostic pour analyser des données de capteur détectées par un ou plusieurs capteurs pour générer des données d'habitudes d'un utilisateur et pour comparer les données d'habitude générées aux données pour un diagnostic en vue de diagnostiquer un groupe de risque de maladie, un appareil de gestion du diagnostic et un procédé de diagnostic l'utilisant.하나 이상의 센서로부터 검출된 센서 데이터를 분석하여 사용자의 습관 데이터를 생성하고, 생성된 습관 데이터와 진단용 데이터를 비교하여 질환 위험군을 진단하는 진단 장치 및 진단 관리 장치와 그를 이용한 진단 방법이 개시된다.
