用于测量X射线图像设备和X射线检测器中的X射线剂量参数的装置
- 专利权人:
- 安福斯射线安全股份公司
- 发明人:
- T·安福斯
- 申请号：
- CN201480031749.0
- 公开号：
- CN105393142B
- 申请日:
- 2014.30.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于测量X射线剂量参数的装置(205,2051,2052,2053,2054,2055,305,405)。所述装置包括用于检测所述X射线剂量的检测器(3051,3052)。所述装置被配置为定位在邻近X射线源(201)的位置中,所述X射线源被布置成产生具有用于辐射对象(206)的主要射线部分的射线阵式,其中所述位置以这种方式选取,该方式使得减小或消除时再现图像的干扰。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
