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Biplane x-ray system
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Michael Maschke
申请号:
DE102010019990
公开号:
DE102010019990B4
申请日:
2010.05.10
申请国别(地区):
DE
年份:
2016
代理人:
摘要:
Biplan-Röntgenaufnahmesystem mit zwei in unterschiedlichen Ebenen angeordneten Aufnahmeeinheiten (10, 11) mit jeweils einem Röntgendetektor (16) und einer Röntgenquelle, wobei die erste Aufnahmeeinheit (10) von einer Phasenkontrast-Aufnahmeeinheit zur Phasenkontrast-Röntgenbildgebung gebildet wird, welche einen Röntgenstrahler mit einer Vielzahl von Feldemissionsröntgenquellen (23) zur Aussendung von quasi-kohärenter Röntgenstrahlung, einen Röntgendetektor (16), ein Phasengitter (17), welches zwischen einem Untersuchungsobjekt und dem Röntgendetektor (16) angeordnet ist, und ein Amplitudengitter (18), welches zwischen dem Phasengitter (17) und dem Röntgendetektor (16) angeordnet ist, aufweist, und wobei beide Aufnahmeeinheiten (10, 11) C-Bögen (12, 13) aufweisen, mittels denen sie gemeinsam an einem Roboterarm (22) verstellbar oder verschwenkbar angeordnet sind.Biplan X-ray system with two arranged in different planes receiving units (10, 11) each having an X-ray detector (16) and an X-ray source, wherein the first receiving unit (10) is formed by a phase contrast recording unit for phase-contrast X-ray imaging, which X-ray with a A plurality of field emission x-ray sources (23) for emitting quasi-coherent x-radiation, an x-ray detector (16), a phase grating (17) arranged between an examination subject and the x-ray detector (16), and an amplitude grating (18) arranged between the phase grating (17) and the X-ray detector (16) is arranged, and wherein both receiving units (10, 11) C-arms (12, 13), by means of which they are arranged together on a robot arm (22) adjustable or pivotable.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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