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MEASURING APPARATUS AND DETECTION DEVICE
专利权人:
SEIKO EPSON CORP;セイコーエプソン株式会社
发明人:
HASHIMOTO DAIKI,橋本 大毅,SAWATARI SAE,沢渡 彩映
申请号:
JP2016042293
公开号:
JP2017153876A
申请日:
2016.03.04
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce possibility of erroneous irradiation of a laser beam used for acquisition of biological information.SOLUTION: A measuring apparatus comprises: a first light emitting section for emitting light of a first wave length; a second light emitting section having an invasion depth with respect to a measuring site exceeding that of the light of the first wave length, and emitting light of a second wave length; a light receiving section for generating a detection signal according to a light reception level of light reaching there from the measuring site; and an analysis section for acquiring biological information according to the detection signal. The first light emitting section, the second light emitting section, and the light receiving section are installed on a detection surface facing the measuring site. A distance between the first light emitting section and the light receiving section exceeds a distance between the second light emitting section and the light receiving section.SELECTED DRAWING: Figure 2【課題】生体情報の取得に使用されるレーザーの誤射の可能性を低減する。【解決手段】第1波長の光を出射する第1発光部と、測定部位に対する深達度が前記第1波長の光を上回る第2波長の光を出射する第2発光部と、前記測定部位から到達する光の受光レベルに応じた検出信号を生成する受光部と、前記検出信号に応じた生体情報を取得する解析部とを具備し、前記第1発光部と前記第2発光部と前記受光部とは、前記測定部位に対向する検出面に設置され、前記第1発光部と前記受光部との距離は、前記第2発光部と前記受光部との距離を上回る測定装置。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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