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SYSTEMS AND METHODS FOR CONDUCTING CONTACT-FREE THICKNESS AND REFRACTIVE-INDEX MEASUREMENTS OF INTRAOCULAR LENSES USING A SELF-CALIBRATING DUAL CONFOCAL MICROSCOPY SYSTEM
专利权人:
发明人:
Do-Hyun Kim,Ilko Kolev Ilev,Robert Harold James,Don Calogero
申请号:
US15904916
公开号:
US20180259759A1
申请日:
2018.02.26
申请国别(地区):
US
年份:
2018
代理人:
摘要:
Systems and methods for conducting contact-free thickness and refractive-index measurements of transparent objects, such as intraocular lenses using a dual confocal microscopy system are disclosed.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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