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IMAGING PROBE AND METHOD OF OBTAINING POSITION AND/OR ORIENTATION INFORMATION
专利权人:
EZONO AG;에조노 아게
发明人:
HENKEL ROLF,헨켈, 롤프,VENTURA SOBRINO PATINO ELISEO,벤투라 소브리노 파티노, 엘리세오,VON OFFENBERG SWEENEY ROBERT,본 오펜버그 스위니, 로버트,DUNBAR ALLAN,던바, 알란
申请号:
KR1020147008901
公开号:
KR1020140082686A
申请日:
2011.09.06
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
A method of obtaining information about the position and/or orientation of a magnetic component relatively to a magnetometric detector, the magnetic component and the magnetometric detector being moveable independently from each other relatively to a static secondary magnetic field, the method comprising the steps of: measuring in the presence of the combination of both the magnetic field of the magnetic component and the static secondary magnetic field essentially simultaneously the strength and/or orientation of a magnetic field at at least a first position and a second position spatially associated with the magnetometric detector, the second position being distanced from the first position; and combining the results of the measurements to computationally eliminate the effect of the secondary magnetic field and derive the information about the position and/or orientation of the magnetic component.자기 검출기에 대한 자기 부품의 위치 및/또는 방향에 관한 정보를 획득하는 방법에 있어서, 자기 부품 및 자기 검출기는 정적 2차 자기장에 대해 서로로부터 독립적으로 이동 가능하고 상기 방법은, 자기 부품의 자기장 및 정적 2차 자기장 양자의 조합의 존재 내에서 자기 검출기와 공간적으로 연관된 적어도 제1 위치 및 제2 위치에서의 자기장의 세기 및/또는 방향을 본질적으로 동시에 측정하는 단계 - 제2 위치는 제1 위치로부터 이격됨 -; 및 2차 자기장의 영향을 계산적으로 제거하고 자기 부품의 위치 및/또는 방향에 관한 정보를 도출(derive)하기 위해 측정들의 결과들을 조합하는 단계를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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