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通过非晶硅X射线探测器进行电磁辐射探测的系统和方法
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- P·K·库恩,P·T·安德森,J·R·兰伯蒂
- 申请号：
- CN200610064460.6
- 公开号：
- CN101190130B
- 申请日:
- 2006.11.30
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明的特定实施例提供一种探测成像系统(100)中的电磁场(160)的方法，所述方法包括：利用电磁发射器(150)发射电磁场(160)，利用成像系统探测器(120，200)探测电磁场(160)，以及至少部分地基于电磁场(160)从探测器(120，200)读取场图像。成像系统探测器(120，200)能够读取物体图像和场图像。探测器(120，200)可以是非晶硅平板x射线探测器。电磁发射器(150)可被用于手术导航。可以部分地基于场图像来确定手术设备、仪器和/或工具的位置。探测器(120，200)在电磁发射器(150)发射电磁场(160)时可以被协调以采集场图像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
