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荧光硅纳米颗粒及其在汞离子检测和指纹显现中的应用
专利权人:
哈尔滨师范大学
发明人:
柴芳,祝宝雅,李双,任国娟,杨明瑞,曲凤玉
申请号:
CN201611123003.X
公开号:
CN106596482A
申请日:
2016.12.08
申请国别(地区):
中国
年份:
2017
代理人:
张铁生`刘延军
摘要:
本发明公开了一种荧光硅纳米颗粒及在汞离子检测和指纹显现中的应用,用具有荧光性质的硅纳米颗粒作为显现材料显现潜指纹和作为荧光探针对汞离子进行检测。利用叶酸作为还原剂将3‑氨丙基三甲氧基硅烷还原,制备了具有荧光发射的硅纳米颗粒。在紫外灯下,具有荧光性质的硅纳米颗粒可以作为显现试剂来显现潜指纹,显现结果清晰,制备方法简单,材料无毒,成本低,适用于各种客体表面的潜指纹显现,在紫外灯下,在黑色基底下也能清楚显现潜指纹。具有荧光性质的硅纳米颗粒可以作为荧光探针检测水环境下的汞离子,检测的灵敏度高,选测性高,制备简单,材料无毒,成本低等优点。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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