测量光谱的装置及估计分析物浓度的装置和方法
- 专利权人:
- 三星电子株式会社
- 发明人:
- 张炯硕,沈载旭,文铉晳,严槿鍹,李俊虎,郑明薰
- 申请号：
- CN201911125767.6
- 公开号：
- CN111195131A
- 申请日:
- 2019.15.11
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 一种用于测量光谱的装置,包括:光源阵列,被配置为朝向对象发射光;光电检测器,被配置为检测被对象反射的光;以及处理器,被配置为:使用光源阵列和光电检测器,基于光源阵列的温度变化来测量多个温度校正光谱;通过分析所测量的多个温度校正光谱来获得光源温度漂移矢量;使用光源阵列和光电检测器来测量分析光谱;以及通过使用所获得的光源温度漂移矢量来调整所测量的分析光谱以减小光源阵列的温度变化的影响。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
