The present invention relates to an apparatus (100) for influencing and/or detecting magnetic particles in a field of view (28), in particular an MPI apparatus. The apparatus comprises selection field elements (116) for generating a magnetic selection field (50), drive field coils (124 125, 126, 127) for changing the position in space of the two sub- zones (52, 54) by means of a magnetic drive field, focus field elements (116) for changing the position in space of the field of view (28) by means of a magnetic focus field, and receiving elements (148) for acquiring detection signals. A static system function of the apparatus is obtained in the absence of a magnetic focus field, from which an extended system function is generated by shifting a time-domain representation of said static system function proportional to the changes of the position of the field of view caused by appliance of the magnetic focus field. Said extended system function is then used for reconstructing the spatial distribution of the magnetic particles in the field of view from the detection signals.La présente invention concerne un appareil (100) et un procédé pour influencer et/ou détecter des particules magnétiques dans un champ de vision (28), en particulier un appareil de MPI. Lappareil comprend des éléments (116) de champ de sélection pour générer un champ de sélection magnétique (50), des bobines de champ dentraînement (124 125, 126, 127) pour modifier la position dans lespace de deux sous-zones (52, 54) au moyen dun champ dentraînement magnétique, des éléments de champ de mise au point (116) pour modifier la position dans lespace du champ de vision (28) au moyen dun champ de focalisation magnétique et des éléments de réception (148) chargés dacquérir des signaux de détection. Une fonction de système statique de lappareil est obtenue en labsence dun champ de focalisation magnétique, à partir de laquelle est générée une fonction de système étendue en décalant une représentation temps-domain
