RICE, Tyler Bywaters,WHITE, Sean Michael,YANG, Bruce Yee
申请号：
USUS2017/025979
公开号：
WO2017/176781A1
申请日:
2017.04.04
申请国别(地区):
US
年份:
2017
代理人:
摘要：
Devices, systems, and methods are disclosed for improved laser speckle imaging of samples, such as vascularized tissue, for the determination of the rate of movement of light scattering particles within the sample. The system includes a structure adjoining a light source and a photo-sensitive detector. The structure can be positioned adjacent the sample (e.g., coupled to the sample) and configured to orient the light source and detector relative the sample such that surface reflections, including specular reflections and diffuse reflections, are discouraged from entering the detection field of the detector. The separation distance along the structure between the light source and the detector may further enable selective depth penetration into the sample and biased sampling of multiply scattered photons. The system includes an operably coupled processor programmed to derive contrast metrics from the detector and to relate the contrast metrics to a rate of movement of the light scattering particles.La présente invention décrit des dispositifs, des systèmes, et des procédés d'imagerie améliorée du chatoiement laser d'échantillons, tels qu'un tissu vascularisé, destinés à la détermination du niveau de mouvement de particules de diffusion de lumière à l'intérieur de l'échantillon. Le système comprend une structure joignant une source de lumière et un détecteur photosensible. La structure peut être positionnée de manière adjacente à l'échantillon (par exemple couplée à l'échantillon) et configurée pour orienter la source de lumière et le détecteur par rapport à l'échantillon de sorte que les reflets de surface, comprenant les reflets spéculaires et les reflets diffusés, ne puissent pas pénétrer dans le champ de détection du détecteur. La distance de séparation le long de la structure entre la source de lumière et le détecteur peut en outre permettre la pénétration sélective en profondeur dans l'échantillon et l'échantillonnage biaisé de photons diffusés de manière multipl
