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一种低电平扫描场的高强辐射场测试系统及其测试方法
- 专利权人:
- 上海无线电设备研究所
- 发明人:
- 何鸿飞,张元,武亚君,陈奇平
- 申请号：
- CN201310218837.9
- 公开号：
- CN103323682B
- 申请日:
- 2013.06.04
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 张妍`张静洁
- 摘要：
- 本发明公开一种低电平扫描场的高强辐射场测试系统，该系统包含：控制及数据处理模块；高强辐射场模拟信号源，其电路连接控制及数据处理模块，用于产生并输出高强辐射场模拟信号；低频场强辐射阵列，其分别电路连接控制及数据处理模块与高强辐射场模拟信号源，用于接收高强辐射场模拟信号源输出的高强辐射场模拟信号并在待测区域内产生均匀分布的场强；多通道接收设备，其电路连接控制及数据处理模块，探测待测区域内的场强并传输至控制及数据处理模块。本发明能够对航天航空器等目标开展整机级低电平扫描场测试，获得HIRF条件下航天航空器等目标的屏蔽性能等防护性能的参数，也可用于汽车、轨道交通等在强电磁环境下的防护性能验证测试。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
