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作物根系表型检测方法和装置
- 专利权人:
- 北京农业信息技术研究中心
- 发明人:
- 杜建军,郭新宇,温维亮,王传宇
- 申请号：
- CN201710428771.4
- 公开号：
- CN107392956A
- 申请日:
- 2017.06.08
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 王莹
- 摘要：
- 本发明提供一种作物根系表型检测方法和装置。所述方法包括，处理装置接收待测作物根系进行360度范围内多个位置进行拍摄而获取的多个图像序列对，各图像序列对均包括二维作物根系图像序列和三维作物根系图像序列，根据二维作物根系图像序列，计算得到特征点，寻找与同对三维作物根系图像序列中的映射点，并读取映射点深度值，若映射点的深度值符合预设根系深度阈值范围，则保留特征点，并最终计算三维作物根系表面模型，根据三维作物根系表面模型，计算所述作物根系对应的根系信息。本发明提供的一种作物根系表型检测方法和装置通过多角度二维作物根系图像序列和三维作物根系图像解析三维作物根系表面模型，使待测作物根系信息更精确。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
