序列散斑场强度扫描位移测量方法
- 专利权人:
- 清华大学
- 发明人:
- 李喜德,陶刚,邓兵,杨懿彰
- 申请号：
- CN02130912.4
- 公开号：
- CN1401990A
- 申请日:
- 2002.09.13
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2003
- 代理人:
- 摘要：
- 一种序列散斑场强度扫描位移测量方法，属光电无损检测领域。本方法由下列步骤完成：对被测物通过双光束干涉获得单调连续变化的序列散斑图；对所得的序列散斑图在时间域内用相关法划分出不同的强度统计和扫描区间；对划分好区间的序列散斑图进行强度统计平均和扫描获得该区间相位函数的主值；对获得主值相位函数区间内的序列散斑图所对应的余弦强度序列再进行六区域分割并对其强度值逐点比较，获得余弦序列所对应的相位变化周期；将主值相位和相位变化周期迭加，获得由相关划分所确定的区间中的连续位相分布；将获得的所有区间的连续相位值叠加即可完成位移场检测。采用本方法可以在不加外载波和相移系统的条件下，对时变位移场进行定量测量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
