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一种采用偏光显微镜观测纳米颗粒用于细胞成像的方法
专利权人:
李乐;贺志红;湖南伊鸿健康科技有限公司
发明人:
李乐,金鑫,贺志红
申请号:
CN201510061062.8
公开号:
CN104711314A
申请日:
2015.02.05
申请国别(地区):
中国
年份:
2015
代理人:
摘要:
本发明公开了一种采用偏光显微镜观测纳米颗粒用于细胞成像的方法,本发明采用偏光显微镜观察单个金纳米棒,发现偏光显微镜能够对各向异性的纳米材料进行选择性成像,在偏光显微镜下,金纳米棒的散射光点具有较小的尺寸,能够显著降低成像的背景值,相应地图像的信噪比得到至少3倍以上的改善。由于这种独特的光学性能,各向异性纳米材料和偏光显微镜在癌细胞成像和检测中有着巨大的应用潜力。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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