准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置
- 专利权人:
- 株式会社ANSeeN
- 发明人:
- 森井久史,奥之山隆治,都木克之
- 申请号：
- CN201880090161.0
- 公开号：
- CN111770728A
- 申请日:
- 2018.02.27
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供能够将散射放射线进一步除去的准直仪、放射线探测装置及放射线检查装置。本发明的准直仪20具备：放射线屏蔽部22；和放射线透过部21，其放射线屏蔽率低于上述放射线屏蔽部22，所述放射线透过部将上述放射线屏蔽部22贯通，并且为实心。根据本发明的准直仪20，由于准直仪20的X射线透过部21是实心的，因此，在X射线透过部21中，由被检体B散射的低能量侧的X射线被吸收。因此，由放射线探测元件30探测到的X射线中包含的噪声少，能够得到分辨率高的X射线图像。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
