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视网膜电位测量装置
专利权人:
株式会社多美
发明人:
船田英明
申请号:
CN202010522584.4
公开号:
CN112057070A
申请日:
2020.06.10
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
本发明提供一种视网膜电位测量装置。视网膜电位测量装置通过光刺激来测量视网膜电位。视网膜电位测量装置包括视网膜电位检测部、光刺激照射部和控制部,其中,视网膜电位检测部检测受检眼的视网膜电位;光刺激照射部对受检眼照射光刺激;控制部控制从光刺激照射部照射的光刺激。控制部构成为能够连续地执行包含第1检查和第2检查的检查组,其中,第1检查以第1模式照射光刺激;第2检查以不同于第1模式的第2模式照射光刺激。在连续执行的检查组之间设置有第1规定间隔。据此,能够减少用于进行多种类型的检查所需要的时间。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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