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用于确定密封件被破坏的时间的方法和系统
专利权人:
艾利丹尼森零售信息服务公司
发明人:
I·J·福斯特
申请号:
CN201580075205.9
公开号:
CN107205882A
申请日:
2015.12.10
申请国别(地区):
CN
年份:
2017
代理人:
摘要:
提供了用于确定密封容器的密封件何时被破坏的系统和方法。其可以包括密封容器,该密封容器具有将容器的内部与外部环境隔开的密封件。电路的环境敏感性导体被安置于密封容器的内部中。该导体具有电学性能,所述电学性质具有作为时间和暴露于外部环境的函数以可预测的方式变化的已知初始值。因此,破坏密封件和将导体暴露于环境导致导体的电学性能改变。在确定电学性能的当前值时,可以将初始值和数值随时间的预期变化结合使用,以便确定密封件被破坏的时间。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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