矩阵衬底、检测设备、检测系统和驱动检测设备的方法
- 专利权人:
- 佳能株式会社
- 发明人:
- 望月千织,渡边实,横山启吾,大藤将人,川锅润,藤吉健太郎,和山弘
- 申请号：
- CN201110424534.3
- 公开号：
- CN102569318A
- 申请日:
- 2011.12.16
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本申请涉及矩阵衬底、检测设备、检测系统和驱动检测设备的方法。提供一种矩阵衬底，所述矩阵衬底实现高操作速度和高可靠性，并能够在连接端子数量有限的同时获得高质量图像。所述矩阵衬底包括按矩阵布置的像素、在列方向上布置的N个驱动线、P个连接端子和解复用器，其中，P小于N，所述解复用器设置在连接端子与驱动线之间并包括第一多晶半导体TFT和第一连接端子。所述解复用器还包括在连接端子之一与驱动线中的两个或更多个之间的第二多晶半导体TFT和第二控制线，第二控制线用于使驱动线保持具有使像素处于非选择状态的非选择电压。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
