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CONTACTLESS OR NON-INVASIVE PHYSICAL PROPERTIES MEASUREMENT INSTRUMENT USING EDDY CURRENT-REDUCED HIGH Q RESONANT CIRCUIT PROBE
专利权人:
Sameh Sarhan
发明人:
Sameh Sarhan,Lawrence Herbert Zuckerman,Jihad Naja,David Van Valen
申请号:
US15082638
公开号:
US20170042437A1
申请日:
2016.03.28
申请国别(地区):
US
年份:
2017
代理人:
摘要:
Eddy current measurement systems for a variety of bio-metric and other applications, where the target composition and/or other aspects cause relatively small eddy current losses, thus requiring a very high Q tuned circuit probe, and where ultra-miniature and ultra-low power products are required for convenient, non-invasive, and intrinsically safe wearable use
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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