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Verfahren zur Nachführung einer 2D-3D-Registrierung bei Bewegung und Rechenvorrichtung
专利权人:
Siemens Healthcare GmbH
发明人:
Benno Heigl,Anja Borsdorf,Jian Wang
申请号:
DE102013214479
公开号:
DE102013214479B4
申请日:
2013.07.24
申请国别(地区):
DE
年份:
2017
代理人:
摘要:
Verfahren zur Nachführung einer 2D-3D-Registrierung zwischen einem zuerst aufgenommenen dreidimensionalen Bilddatensatz eines Zielbereichs und mehreren während eines Vorgangs, insbesondere eines Behandlungsvorgangs, aufgenommenen zweidimensionalen Projektionsbildern des Zielbereichs, wobei der Zielbereich einer Bewegung, auf die sich die Nachführung bezieht, unterworfen ist, dadurch gekennzeichnet, dass durch eine Rechenvorrichtung– mehrere entlang einer in dem Projektionsbild sichtbaren, einem rigiden Objekt (3) im Zielbereich zugehörigen Kontur liegende Konturpunkte (P, W) in einem ersten Projektionsbild und dem damit registrierten dreidimensionalen Bilddatensatz ausgewählt werden, wobei die Konturpunkte (P, W) in dem Projektionsbild einen jeweiligen Ortsvektor p und in dem dreidimensionalen Bilddatensatz einen jeweiligen Ortsvektor w aufweisen,– eine jeweilige Verschiebung der Konturpunkte (P) in den Projektionsbildern zwischen zwei aufeinanderfolgend aufgenommenen Projektionsbildern bei bewegtem Zielbereich als Vektor dp ermittelt wird,– eine die Bewegung des rigiden Objekts (3) beschreibende Bewegungsinformation (dω, dv) ermittelt wird,• indem für jeden Konturpunkt (W) eine dreidimensionale Zielebene (π) bestimmt wird, in der der um den Vektor dw verschobene Konturpunkt mit dem Ortsvektor w + dw liegen muss und die das Projektionszentrum C der Projektionsbilder und den verschobenen zweidimensionalen Konturpunkt (P) mit dem Ortsvektor p + dp umfasst, wobei die Zielebene (π) senkrecht zu einem Normalenvektor n steht, dessen Ausrichtung in Abhängigkeit des jeweiligen Ortsvektors w des Konturpunkts (W), eines senkrecht auf dem Verlauf der Kontur an dem jeweiligen Konturpunkt (W) im dreidimensionalen Bilddatensatz stehenden Konturvektors g, des Ortsvektors p und des Vektors dp gemäß der Formeln = (w × g) × (p + dp)(w × g) × (p + dp)ermittelt wird, und• ein durch die Zielebenen (π) vorgegebenes Gleichungssystem, das für jeden Konturpunkt (W) eine Gleichung umfasst, i
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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