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狭缝扫描相位衬度成像中的校正
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- E·勒斯尔,G·马滕斯
- 申请号：
- CN201480036955.0
- 公开号：
- CN105338901B
- 申请日:
- 2014.27.06
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及X射线相位衬度成像中的校准。为了移除由于个别增益因子引起的干扰,提供一种用于狭缝扫描X射线相位衬度成像装置的校准滤波器光栅(10),其包括:第一多个滤波器段(11),所述第一多个滤波器段包括滤波器材料(12);以及,第二多个开口段(13)。所述滤波器段和所述开口段被交替布置为滤波器样式(15)。所述滤波器材料由具有结构元件(14)的材料制成,所述结构元件(14)包括微米范围的结构参数。所述滤波器光栅被可移动地布置在相位衬度成像装置的狭缝扫描系统中的干涉仪单元的X射线源光栅(54)与分析器光栅(60)之间。所述狭缝扫描系统被提供具有预准直器(55),所述预准直器包括多个条棒(57)和狭缝(59)。所述滤波器样式与预准直器样式(61)对齐。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
