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1ステップでの試験ストリップ用試料取込み部
专利权人:
サノフィ-アベンティス・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング
发明人:
マーク・キャッスル,ジェフリー・ペリー,トーマス・シャウプ,ロドニー・クギザキ
申请号:
JP2014505396
公开号:
JP2014515829A
申请日:
2012.04.16
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
Sample capture portion is provided to the test strip, the sample capture unit implements a one-step process to achieve a sample transport puncture events, and sample acquisition sensor designed to support one step test. In various embodiments, the present invention, the layout of (i) an analyte sample acquisition section (iv) a sample transporter structure (iii) sample acquisition section carriage shape and (ii) an analyte sample uptake Shape I realize one step test by a method, which provides a part.試験ストリップに試料取込み部が設けられ、この試料取込み部は、1ステップ試験を支援するセンサ設計で穿刺事象、試料取込みおよび試料輸送を達成するための1ステップ・プロセスを実現する。様々な実施形態において、本発明は、(i)分析物試料取込み部のレイアウト;(ii)分析物試料取込み部形状および輸送部形状;(iii)試料取込み部の構造体;(iv)試料輸送部を提供する方法、などによって1ステップ試験を実現する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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