液晶面板的评价方法和评价装置
- 专利权人:
- 精工爱普生株式会社
- 发明人:
- 黑岩雅宏
- 申请号：
- CN01139340.8
- 公开号：
- CN1354360A
- 申请日:
- 2001.11.21
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2002
- 代理人:
- 杨凯`叶恺东
- 摘要：
- 本发明的课题是,提供可以比现有方法以更高的精度获得关于液晶层信息的一种新型的液晶面板评价方法和评价装置。使入射光学系统中的偏振片25具有与设定方向平行的偏振光偏振轴25t。光线在通过该偏振片25以后形成其振动面包含上述偏振光偏振轴25t方向的线偏振光Li,它以入射角θi入射到液晶面板10。与此相对照,上述检测光学系统被设定成用来检测以入射角θi入射的线偏振光Li中的镜面反射光。以与入射角θi大致相等的出射角θ。从液晶面板10出射的镜面反射光入射到偏振片26,最后被导入上述光检测器29。偏振片26有一个偏振光吸收轴26a,它以光路为基准平行于偏振片25的偏振光偏振轴25t。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
