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검사 장치
专利权人:
发明人:
JEONG, JIN EUNKR,정진은,NA, JUN SEONKR,나준선,LEE, JAE HWAKR,이재화,SEO, GI HOKR,서기호,JANG, CHUNG HEEKR,장충희,CHOI, DONG HOKR,최동호
申请号:
KR1020130122091
公开号:
KR1015087220000B1
申请日:
2013.10.14
申请国别(地区):
KR
年份:
2015
代理人:
摘要:
An inspecting apparatus of the present invention automatizes a defect inspection of a micro needle roller. By automatizing the defect inspection which is originally performed with the naked eye, productivity may be increased. The inspecting apparatus of the present invention comprises: a light source unit projecting light onto an object to be inspected a blind unit blocking some of the light projected onto the object to be inspected from the light source unit a mounting unit fixating the object to be inspected on an optical path and a camera unit detecting light reflected from the object to be inspected.COPYRIGHT KIPO 2015본 발명의 검사 장치는 마이크로니들 롤러의 불량 검사를 자동화를 한다. 종래에 육안으로 불량 검사를 하는 것을 자동화를 함으로써, 생산성을 증대시킬 수 있다.본 발명의 검사 장치는 검사 대상에 빛을 투사하는 광원 유니트와 광원 유니트로부터 검사 대상으로 투사되는 빛의 일부를 차단하는 가림 유니트와 검사 대상을 광경로 상에 고정시키는 거치 유니트와 검사 대상에서 반사된 빛을 검출하는 카메라 유니트를 포함할 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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