X射线干涉成像系统
- 专利权人:
- 斯格瑞公司
- 发明人:
- 西尔维娅·贾·云·路易斯,云文兵,雅诺什·科瑞
- 申请号：
- CN201580021722.8
- 公开号：
- CN106535769B
- 申请日:
- 2015.30.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种x射线干涉成像系统,其中所述x射线源包括靶,所述靶具有嵌入于导热基板中的多个结构化相干的x射线子源。所述系统另外包括:形成Talbot干涉图案的射束分裂光栅G1,所述射束分裂光栅G1可以是相移光栅;以及用于将二维x射线强度转换成电子信号的x射线检测器。所述系统还可包括:第二分析器光栅G2,所述第二分析器光栅G2可以放置在所述检测器的前面以形成附加干涉条纹;用于使所述第二光栅G2相对于所述检测器平移的装置。所述系统可另外包括防散射网格,用于减少来自散射的x射线的信号。还公开了暗场和亮场检测器的各种配置。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
