Un método para caracterizar cáscaras de huevos, siendo soportados los huevos, que comprende, -deformar, al menos, una primera parte S1 de la cáscara de un huevo (E) como tal, -escanear con un rayo (3) láser de un Vibrómetro (2) Laser de Mezcla Propia (SMLV) con señales de escaneo dicha primera parte S1, o, al menos, una segunda parte S2 de dicha cáscara con luz de fuente láser a partir de una fuente laser que tiene longitudes de onda λ, con 100 < λ < 1500 nm, según lo cual una se obtiene una señal de luz de reflexión de luz de reflexión, -procesar dicha señal de escaneo y dicha señal de reflexión con dicho SMLV, según lo cual se obtiene una señal mixta con amplitud A(t) o cantidad A'(t) que deriva de esta, según lo cual se obtiene información de grieta, -mover los huevos durante escaneo, -escanear en dichas partes inmediatamente luego de la deformación que inicia a t(0), en el período 0 < t < 1000 μ s luego de t(0), -en dicho procesamiento, comparar dichas señales con parámetros y ca
