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SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE EN USINE OU D'ÉTALONNAGE SIMPLIFIÉ D'UN CAPTEUR À DEMEURE EN FONCTION D'UN PROFIL DE SENSIBILITÉ
专利权人:
INC.;DEXCOM
发明人:
MA, Rui,BHAVARAJU, Naresh, C.,HAMILTON, Thomas, Stuart,HUGHES, Jonathan,JACKSON, Jeff,LEE, David, I-chun,SIMPSON, Peter, C.,VANSLYKE, Stephen, J.
申请号:
USUS2016/069263
公开号:
WO2017/117416A1
申请日:
2016.12.29
申请国别(地区):
US
年份:
2017
代理人:
摘要:
Systems and methods are disclosed which provide for a "factory-calibrated" sensor. In doing so, the systems and methods include predictive prospective modeling of sensor behavior, and also include predictive modeling of physiology. With these two correction factors, a consistent determination of sensitivity can be achieved, thus achieving factory calibration.Les systèmes et les procédés de l'invention permettent la réalisation d'un capteur étalonné "en usine". Les systèmes et les procédés comprennent la modélisation potentielle prédictive du comportement des capteurs et comprennent également une modélisation prédictive de la physiologie. Ces deux facteurs de correction permettent une détermination uniforme de la sensibilité, ce qui permet de réaliser un étalonnage en usine.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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