in the radiation imaging apparatus of the present invention , the dark current noise of the dark current flowing through the X-ray conversion layer to cause , changing the time for accumulating the charge signal converted from an X-ray conversion layer in the capacitor by obtaining a dark image signal , it is possible to obtain an accurate temperature characteristic of the dark current noise . From this , X -ray detection signals from the X- ray was obtained at the time of image capture , and at the same time removing the offset signal obtained by periodically , the correction of the variation of the dark current noise due to the offset signals obtained when the X -ray image pick-up when the temperature difference of the dark current noise by performed using a temperature characteristic , the accuracy can be improved to remove noise due to the dark current .본 발명의 방사선 촬상 장치에서는, X선 변환층을 흐르는 암전류를 원인으로 하는 암전류 노이즈를, X선 변환층에서 변환된 전하 신호를 콘덴서에 축적하는 시간을 바꾸어 암화상 신호를 얻음으로써, 암전류 노이즈의 정확한 온도 특성을 얻을 수 있다. 이로부터, X선 촬상 시에 얻어진 있던 X선 검출 신호로부터, 주기적으로 취득된 오프셋 신호를 제거함과 동시에, 오프셋 신호 취득 시와 X선 촬상 시의 온도차에 의한 암전류 노이즈의 변동량의 보정을 암전류 노이즈의 온도 특성을 이용하여 실시함으로써, 정밀도 좋게 암전류에 기인하는 노이즈를 제거할 수 있다.
