The present invention relates to calibration in X-ray phase contrast imaging. In order to remove the disturbance due to individual gain factors, a calibration filter (10) for an X-ray phase contrast imaging arrangement is provided that comprises at least one slab of filter material (12). The filter material is made from a material with structural elements (14) comprising structural parameters in the micrometer region. The filter is configured to be temporarily arranged between an X-ray source grating and an interferometer unit in a phase contrast imaging arrangement.La présente invention concerne le calibrage en imagerie à contraste de phase à rayons X. Afin déliminer la perturbation due à des facteurs de gain individuels, un filtre de calibrage (10) pour un agencement dimagerie à contraste de phase à rayons X comprend au moins une plaque de matière filtrante (12). La matière filtrante est faite à partir dune matière ayant des éléments structuraux (14) comprenant des paramètres structuraux dans la région du micromètre. Le filtre est configuré pour être disposé temporairement entre une grille de source de rayons X et une unité dinterféromètre dans un agencement dimagerie à contraste de phase.
