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ANALYSE D'ÉCHANTILLON AVEC DES MIROIRS
专利权人:
PRESIDENT AND FELLOWS OF HARVARD COLLEGE
发明人:
GE, Shencheng,WANG, Yunzhe,DESHLER, Nicolas,PRESTON, Daniel,WHITESIDES, George
申请号:
US2019032797
公开号:
WO2019222582A1
申请日:
2019.05.17
申请国别(地区):
US
年份:
2019
代理人:
摘要:
A device is disclosed, including: a plate including a sample deposition tube adapted to receive a sample comprising one or more analytes, the sample deposition tube defining a vertical axis substantially perpendicular to a main surface of the plate; and a mirror positioned to project, substantially parallel to the main surface of the plate, an image of the sample deposition tube along its vertical axis, so as to allow determination of the vertical location of the one or more analytes inside the sample deposition tube. Methods for determining the density of one or more analytes using various embodiments of the device are also described.L'invention concerne un dispositif comprenant : une plaque comprenant un tube de dépôt d'échantillon conçu pour recevoir un échantillon comprenant une ou plusieurs substances à analyser, le tube de dépôt d'échantillon définissant un axe vertical sensiblement perpendiculaire à une surface principale de la plaque; et un miroir positionné pour projeter, sensiblement parallèlement à la surface principale de la plaque, une image du tube de dépôt d'échantillon le long de son axe vertical, de façon à permettre la détermination de l'emplacement vertical de la ou des substances à analyser à l'intérieur du tube de dépôt d'échantillon. L'invention concerne également des procédés de détermination de la densité d'une ou de plusieurs substances à analyser à l'aide de divers modes de réalisation du dispositif.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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