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DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE
专利权人:
オリンパス株式会社;OLYMPUS CORPORATION
发明人:
TORIYAMA, Seiki,鳥山 誠記,KOBAYASHI, Yoshimine,小林 至峰,ITO, Seigo,伊藤 誠悟,鳥山 誠記,小林 至峰,伊藤 誠悟
申请号:
JPJP2015/060237
公开号:
WO2015/163100A1
申请日:
2015.03.31
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
Provided is an optical measuring device that can accurately distinguish between abnormalities due to optical performance and abnormalities due to problems in the configuration. The optical measuring device (2) comprises: a light source unit (22) that emits illuminating light on an object to be measured via an illuminating fiber (31); a first light reception unit (24) that receives, via a first light receiving fiber (32), returning illuminating light that is reflected by the object; and a calculating unit (291) that calculates the characteristics of the measurement history on the basis of a plurality of measurement values for diffused light based on illuminating light that is reflected by a reflection index member on which illumination light is to be emitted and is received by the first light reception unit (24) via the first light receiving fiber (32) and for diffused light based on light that enters from the outside and that is received by the first light reception unit (24) via the first light receiving fiber (32) and a diffusion index member through which light that enters from the outside passes through as uniform light.L'invention concerne un dispositif de mesure optique qui peut faire la différence de manière précise entre des anomalies dues à des performances optiques et des anomalies dues à des problèmes de conception. Le dispositif de mesure optique (2) comprend : une unité source de lumière (22) qui émet de la lumière d'éclairage sur un objet à mesurer par l'intermédiaire d'une fibre d'éclairage (31) ; une première unité (24) de réception de lumière qui reçoit, par l'intermédiaire d'une première fibre (32) de réception de lumière, la lumière d'éclairage renvoyée qui est réfléchie par l'objet ; et une unité de calcul (291) qui calcule les caractéristiques de l'historique de mesure sur la base d'une pluralité de valeurs de mesure pour la lumière diffusée sur la base d'une lumière d'éclairage qui est réfléchie par un élément à indice de réflexion sur lequel d
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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