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用于微分相衬成像的校正方法
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- K·J·恩格尔,D·格勒,G·福格特米尔
- 申请号：
- CN201080026949.9
- 公开号：
- CN102802529A
- 申请日:
- 2010.06.10
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明总体上涉及用于基于光栅的X射线微分相衬成像(DPCI)的校正方法以及能够有利地应用于X射线辐射照相术和层析成像的设备，用于对要扫描的样本对象或感兴趣解剖区域进行X射线DPCI。更确切地说，提出的发明提供了一种适当方式，有助于增强采集的X射线图像的图像质量，其受到相位缠绕的影响，例如，在Talbot-Lau型干涉仪的探测器平面中，在X射线束在相移分束光栅处衍射之后，所发射的所述X射线束的所得莫尔干涉图案中。这种问题被所获得的DPCI图像中的噪声进一步加重，如果所探测X射线图像中两个相邻像素之间的相位改变超过π弧度，就会发生这种问题，其受到对象局部相位梯度上线积分的影响，这种线积分诱发2π弧度的相位偏移误差，导致平行于所述线积分方向的显著线人为噪声。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
