A method and apparatus for determining estimated remaining longevity for an implantable stimulator. The device employs pre-calculated numbers of days for various combinations conditions of device usage parameters to determine remaining device longevity based upon identified actual conditions of device usage and employs the determined longevity to change longevity indicator states in the device. While between longevity state changes, the device the identified conditions of device usage and adjusts the determined longevity if the conditions of use change significantly. The indicator states may correspond to one or more of Recommended Replacement Time (RRT), Elective Replacement Indicator (ERI) or End of Service (EOS).L'invention concerne un procédé et un appareil permettant de déterminer une longévité restante estimée pour un stimulateur implantable. Le dispositif utilise des nombres de jours calculés au préalable pour diverses conditions de combinaison de paramètres d'usage du dispositif afin de déterminer la longévité restante du dispositif en fonction des conditions réelles identifiées d'usage du dispositif et il utilise la longévité déterminée pour changer les états indicatifs de longévité dans le dispositif. Entre les changements d'état de longévité, le dispositif continue à fonctionner selon les conditions identifiées d'usage du dispositif et il ajuste la longévité déterminée si les conditions d'utilisation changent de façon significative. Les états indicatifs peuvent correspondre à un ou plusieurs éléments parmi un temps de remplacement recommandé (RRT), un indicateur de remplacement choisi (ERI) ou une fin de service (EOS).
