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探测器质量控制效验方法、装置、计算机设备和存储介质
专利权人:
上海联影医疗科技有限公司
发明人:
冯涛,胡凌志,何鎏春
申请号:
CN201910900705.1
公开号:
CN110584698A
申请日:
2019.23.09
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本申请涉及一种探测器质量控制效验方法、装置、计算机设备和存储介质。获取背景辐射符合事件数据、待扫描物体含飞行时间信息的实测符合事件数据、非飞行时间重建图像以及衰减图;根据实测符合事件数据、衰减图以及非飞行时间重建图像,确定目标响应线的时间偏移;根据每条目标响应线的时间偏移,得到目标响应线对应的每个晶体的时间偏移;根据每个晶体的时间偏移以及背景辐射符合事件数据得到检验参数,并根据检验参数对探测器进行质量控制。本方法不需要模体、额外的放射源以及操作工程师,直接利用待检测物体的临床扫描数据计算晶体的时间偏移,再根据晶体的时间偏移对探测器进行质量控制,节省了成本以及人力资源,并且质量控制的进度更高。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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