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DISPOSITIF D'EXAMEN DE NERF PÉRIPHÉRIQUE, MÉTHODE D'EXAMEN DE NERF PÉRIPHÉRIQUE, ET PROGRAMME
专利权人:
NIHON KOHDEN CORPORATION;日本光電工業株式会社
发明人:
KAIAMI Takashi,貝阿彌隆,YOSHIDA Ryoko,吉田諒子,MOTOGI Jun,根木潤
申请号:
JPJP2018/041959
公开号:
WO2020/100209A1
申请日:
2018.11.13
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
A peripheral nerve examination device (1) evaluates a nerve of a subject on the basis of an expression by the subject of perception of stimulation. A stimulation control unit (13) controls a plurality of stimulations of varying intensity that are imparted to the subject. A measurement unit (12) obtains a measured value of the reaction time of the subject to each of the plurality of stimulations. An output unit (14) outputs a relationship between the measured values and the intensity of the plurality of stimulations.La présente invention concerne un dispositif d'examen de nerf périphérique (1) évaluant un nerf d'un sujet sur la base d'une expression par le sujet d'une perception de stimulation. Une unité de commande de stimulation (13) commande une pluralité de stimulations d'intensité variable qui sont communiquées au sujet. Une unité de mesure (12) obtient une valeur mesurée du temps de réaction du sujet à chacune de la pluralité de stimulations. Une unité de sortie (14) délivre une relation entre les valeurs mesurées et l'intensité de la pluralité de stimulations.末梢神経検査装置(1)は、被検者による刺激の感知の表明に基づいて被検者の神経の評価を行う。刺激制御部(13)は、被検者に与える強度を変えた複数回の刺激を制御する。測定部(12)は、複数回の刺激の各々に対する被検者の反応時間の測定値を測定する。出力部(14)は、複数回の刺激の強度と測定値との関係を出力する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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