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斜视测量设备
专利权人:
上海青研科技有限公司
发明人:
杜煜,胡飞扬
申请号:
CN202011229848.3
公开号:
CN112336301A
申请日:
2020.11.06
申请国别(地区):
CN
年份:
2021
代理人:
摘要:
本发明要解决的技术问题是:现有的测量斜视的方法耗费时间,并且不易得到定量结果。为了解决上述技术问题,本发明的技术方案是提供了一种斜视测量设备,其特征在于,包括:显示与控制模块;图像拍摄与处理模块;标定模块;眼动点计算模块;数据分析模块。本发明具有的有益效果是:可以有效节约医生和受检者的时间,可以快速得到定性和定量斜视测量结果,且测试结果直观,准确。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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