The Governing Council of the University of Toronto
发明人:
申请号：
EP16806476.4
公开号：
EP3307163A1
申请日:
2016.06.09
申请国别(地区):
EP
年份:
2018
代理人:
摘要：
Systems, methods and apparatuses described herein generally provide a millimetre size package-free complementary metal-oxide-semiconductor (“CMOS”) chip (referred to as a “die”) for the in situ (on-site) measurement or imaging of electrochemically detectable analytes.La présente invention concerne de manière générale des systèmes, des procédés et des appareils qui utilisent une puce à semiconducteurs métal-oxyde-complémentaire sans boîtier de taille millimétrique ("CMOS") (appelé un"dé") pour la mesure ou l'imagerie in situ (sur site) d'analytes détectables par voie électrochimique.
