基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法
- 专利权人:
- 中国人民解放军信息工程大学
- 发明人:
- 席晓琦,刘建邦,韩玉,闫镔,卜海兵,李磊,孙艳敏,王敬雨,肖凯
- 申请号：
- CN201710401166.8
- 公开号：
- CN107202805B
- 申请日:
- 2017.31.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种锥束CT散射伪影校正方法,特别是一种基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法,包括:对被测物进行CT扫描,得到投影数据;估算X射线的初始的光子数N0;利用初始光子数N0计算探测器上的光子数分布;计算X射线散射分布;从原始投影数据中扣除散射分布。本技术方案提出了一种新的卷积核,其中最关键的部分是散射核函数的求解,针对同材质均匀物体,分析X射线与物质相互作用的每个过程,并用数学公式加以描述,从而求得整个平面的散射分布。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
