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测量装置、测量系统、使用测量系统的测量位置对齐方法和测量位置对齐程序
- 专利权人:
- 株式会社隆创
- 发明人:
- 川端秀树,木岛明良
- 申请号：
- CN201280038297.X
- 公开号：
- CN103718007B
- 申请日:
- 2012.06.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明的目的在于准确地对齐将要测量的多个物体的对应测量点，并且根据两个测量点处的测量的结果评估将要测量的物体。测量系统（100）设置有测量装置（10）和PC（20），并且测量装置（10）设置有测量将要测量的物体的测量点的分光部（12）和用于实时地对测量点的周边进行拍摄的摄像头（16）。PC（20）在显示部（22）的显示画面上显示由测量装置（10）的摄像头（16）拍摄并且显示的评估介质的连续图像信息的评估图像以重合在已经由摄像头（16）拍摄并且存储在存储器（24）中的基准介质的静止图像信息的基准图像上。通过在通过在两个图像彼此几乎完全重叠时测量评估图像中的测量点获得的测量数据与存储器（24）中存储的基准图像中的测量点的测量数据之间执行比较，能够容易地执行对齐并且执行测量数据的比较。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
