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MAGNETIC RESONANCE RAPID PARAMETER IMAGING METHOD AND SYSTEM
专利权人:
SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE ACADEMY OF SCIENCES
发明人:
PENG, Xi,彭玺,LIANG, Dong,梁栋,LIU, Xin,刘新,ZHENG, Hairong,郑海荣
申请号:
CNCN2014/093168
公开号:
WO2015/085889A1
申请日:
2014.12.05
申请国别(地区):
WO
年份:
2015
代理人:
摘要:
Disclosed is a magnetic resonance rapid parameter imaging method and system. The method comprises: obtaining a target undersampled magnetic resonance signal (S10) obtaining prior information of a parameter model (S20) performing sequence reconstruction of a target image according to the undersampled magnetic resonance signal and the prior information to obtain a target image sequence (S30) and substituting the target image sequence into the parameter estimation model to obtain object parameters and to generate parametric images (S40).Linvention concerne un procédé et un système dimagerie de paramètre rapide par résonance magnétique. Le procédé consiste à : obtenir un signal de résonance magnétique sous-échantillonné cible (S10) obtenir des informations antérieures dun modèle de paramètre (S20) réaliser une reconstruction de séquence dune image cible en fonction du signal de résonance magnétique sous-échantillonné et des informations antérieures pour obtenir une séquence dimage cible (S30) et remplacer la séquence dimage cible dans le modèle destimation de paramètre pour obtenir des paramètres dobjet et générer des images paramétriques (S40).
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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