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スペクトルの測定方法
专利权人:
KAO CORP
发明人:
ICHIHASHI TOSHIKI,市橋 俊希,NAITO SATOSHI,内藤 智,ISHIMARU ICHIRO,石丸 伊知郎
申请号:
JP2016190432
公开号:
JP2018054448A
申请日:
2016.09.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method based on interference spectroscopy with which it is possible to acquire a near-infrared two-dimensional spectroscopic image with high accuracy.SOLUTION: The method measures each of the power spectrum A of multi-wavelength near-infrared light emitted from a light source L and with which a test object 11 is irradiated and the power spectrum B of multi-wavelength near-infrared light having passed through the test object 11 by interference spectroscopy, and measures the transmission spectrum of the test object 11 from the power spectra A and B. An optical filter F is arranged that causes near-infrared light of one or a plurality of specific wavelength regions within an observation wavelength region to be transmitted between the test object 11 and a detection unit or between the test object 11 and the light source L and causes the transmission of near-infrared light of wavelength regions within the observation wavelength region, except the specific wavelength region, to be attenuated.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2018,JPO&INPIT【課題】干渉分光法を利用した近赤外二次元分光像を高い精度で取得可能な方法を提供すること。【解決手段】光源Lから発せられ且つ被験体11に照射された多波長の近赤外光のパワースペクトルA、及び被験体11を透過した多波長の近赤外光のパワースペクトルBを、それぞれ干渉分光法によって測定し、パワースペクトルA及びBから被験体11の透過スペクトルを測定する。被験体11と検出部との間、又は被験体11と光源Lとの間に、観測波長域内の1又は複数の特定波長域の近赤外光を透過させ、且つ観測波長域内の前記特定波長域以外の波長域の近赤外光の透過を減衰させる光学フィルタFを配置する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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