用于探测吸收性物品内出现多次污损的方法及设备
- 专利权人:
- 金伯利-克拉克环球有限公司
- 发明人:
- T·M·阿莱斯三世,C·P·罗特若夫
- 申请号：
- CN200780051395.6
- 公开号：
- CN101668499B
- 申请日:
- 2007.11.14
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种探测吸收性物品中出现污损的方法。测量该物品的电性质并将其数字化。为了探测到污损，通过微处理器运用这些数字值来确定以下至少其中之一：(a)该电性质与一阈值相比较的斜率；(b)在一段时间内该电性质与一阈值的比较；和/或(c)该电性质与一确定阈值的比较。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
