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表面特性測定装置
- 专利权人:
- コニカミノルタ株式会社
- 发明人:
- 竹部 洋佑,阿部 芳久
- 申请号：
- JP20160521002
- 公开号：
- JPWO2015178142(A1)
- 申请日:
- 2015.04.20
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- １台の表面特性測定装置により光沢測定及び反射特性測定の両方を行うことができるようにし、光沢測定の被測定領域及び反射特性測定の被測定領域が適切に設定されるようにする。光沢測色計において光沢測定機構及び測色機構が一体化される。光沢測定機構は、照明光で被照明面を照明し、被照明面が照明光を正反射することにより生成される反射光を受光し、反射光に対する測定の結果を出力する。光沢測定の被測定領域の大きさは、変更可能である。測色機構は、環状照明光で被照明面を照明し、被照明面が環状照明光を反射することにより生成される反射光を受光し、反射光に対する測定の結果を出力する。反射特性測定の被測定領域の大きさは、変更可能である。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
